激光法导热分析仪 LFA 457 MicroFlash®

NETZSCH LFA 457 MicroFlash® 代表了当代激光闪射测量技术的最新进展。仪器为桌上型，温度范围 -125 ... 1100℃。为了覆盖这一温度范围，提供了两种可自由切换的炉体。

系统所使用的全新的红外传感器技术使得用户甚至可以在 -125℃ 的低温下测量样品背部的温升曲线。

仪器既可使用内置的自动样品切换器在一次升温中对多个较小的样品进行测量，也可单独测量较大的样品（最大直径 25.4mm）。

真空密闭系统使得仪器可以在多种用户可选的气氛中进行测量。

样品支架、炉体与检测器的垂直式排布方便了样品的放置与更换，同时使得检测信号拥有最佳的信噪比。

LFA 457 是最强大与灵活的 LFA 系统，适用于包括汽车制造、航空航天与能源技术在内的各种领域的常规材料与新型高性能材料的表征。

LFA 457 MicroFlash® - 技术参数

• 温度范围：-125 ... 500℃，RT ... 1100℃（使用两种可自由更换的炉体）
• 升降温速率：0 ... 50 K/min
• 激光能量：15 J/pulse（功率可调）
• 使用红外检测器，进行非接触式的样品表面温升信号测试
• 热扩散系数范围：0.01 ... 1000 mm2/s
• 导热系数范围：0.1 ... 2000 W/m*K
• 样品直径：10 ... 25.4 mm 圆，或 8×8 与 10×10mm 方。
• 样品厚度：0.1 ... 6 mm
• 样品支架：碳化硅，石墨
• 熔融金属容器：蓝宝石
• 液体样品容器：铂金
• 气氛：惰性，氧化，还原，静态，动态
• 真空密闭系统，真空度 10-2mbar

LFA 457 MicroFlash® 结构示意图（1100℃炉体）

LFA 457 MicroFlash® - 软件功能

LFA 457 MicroFlash® 的测量与分析软件是基于 MicroSoft Windows® 系统的 Proteus® 软件包，它包含了所有必要的测量功能和数据分析功能。这一软件包具有极其友善的用户界面，包括易于理解的菜单操作和自动操作流程，并且适用于各种复杂的分析。Proteus 软件既可安装在仪器的控制电脑上联机工作，也可安装在其他电脑上脱机使用。

LFA 部分软件功能：

• 精确的脉冲宽度修正与脉冲能量积分。
• 热损耗修正。
• 集成了所有传统模型。
• 使用非线性回归进行 Cowan 拟合。
• 改进的 Cape-Lehmann 模型，使用非线性回归，将多维热损耗纳入计算。
• 对于半透明样品的辐射修正。
• 二层与三层结构样品：通过非线性回归方式进行拟合，并将热损耗纳入计算。
• 计算多层样品的接触热阻。
• 比热测量：使用已知比热的标样、通过比较法进行计算。
• 内置数据库。

NETZSCH LFA Proteus® 的分析界面

参见：Proteus®

LFA 457 MicroFlash® - 应用实例

LFA 457 MicroFlash® - 相关附件

LFA 457 MicroFlash® 配有恒温水浴，以保证温度与长时间工作的稳定性。

提供多种类型的真空泵，可以使得测试在真空或纯净无氧的惰性气氛下进行。

流量计，用于调节吹扫气体的流量。

由 SiC 或石墨制成的样品支架与样品罩，适用于标准样品尺寸。

提供由铂金、铝、蓝宝石等材料制成的多种类型不同尺寸的样品支架或样品容器，用于测量液体样品、熔融金属、矿渣与纤维等特殊样品。

提供用于热扩散系数验证的标准样品。

提供用于比热测试的参比样品。

制样设备。